Pracovní dny 8:00 - 17:00 296 796 111   

Řešení pro vaše technologie. Technologie pro vaše řešení.

Měření tloušťky vrstev

Tyto spektrometry využívají energodisperzního principu a jsou určeny především k měření tloušťky povrchových vrstev, s možností přesné volby měřeného místa i jeho rozměrů. Mohou měřit i několik kovových vrstev na sobě, případně pod vrstvou laku. Měřené místo může mít velikost pod 1 mm.

Specializované spektrometry řady CMI 900 jsou určeny především k měření tloušťky povrchových vrstev, s možností přesné volby měřeného místa i jeho rozměrů. Mohou měřit i několik kovových vrstev na sobě, případně   pod vrstvou laku. Využívají energodisperzního principu, měřené místo může mít velikost pod 1 mm.

Nejnovější řada spektrometrů - XStrata980 se vyznačuje především výkonnou rtg. lampou (100W), XStrata 980 - PCBmožností využít kolimátor 0,05 mm, jednoduchým ovládáním, velkou měřící komorou
a velmi přesným zaostřením měřeného bodu. Přístroj je určen i pro rutinní využití při kontrole výroby.